Plasma generation
- RF Matcher
¡¤ PathFinder¢â
- Plasma sources
¡¤ Overview
¡¤ ICP sources
-(DoSA series)
Plasma measurement systems
- Arc Detector
¡¤ AWACS¢â
- Langmuir probe
- system
¡¤ DLP2000¢â
Plasma systems
- MINIPLASMA-
- station
- MINIPLASMA-cube
- MINIPLASMA-atmos
Home > Products > Plasma measurement systems > NIEA



¹®Á¦Á¡ÀÇ Á¶±âÆÄ¾Ç ¸íÈ®ÇÑ Çö»óÆÄ¾Ç ½Å¼ÓÇÑ ´ëÃ¥¼ö¸³ ³ôÀº ¿î¿µ ¿ëÀ̼º
- ¸Å¿ì³ôÀº Sensitivity¸¦ ¹Ù
- ÅÁÀ¸·Î °øÁ¤ÀÇ ¹Ì¼¼ÇÑ º¯
- È­¸¦ »çÀü¿¡ Æ÷Âø
- Çâ ÈÄ Å« ¹®Á¦°¡ ³ªÅ¸³ª±â
- Àü¿¡ Á¶±â ÆÄ¾Ç
- ¸íÈ®È÷ Á¤Àǵǰí Á÷°üÀû
- ÀÎ ¾çÀÎ IEDF¸¦ ÀÌ¿ë
- ±âÁ¸ÀÇ Monitoring Àåºñµé
- ¿¡ ºñÇØ ¸Å¿ì ¸íÈ®ÇÑ Çö»ó
- ÆÄ¾Ç
- °øÁ¤°úÀÇ »ó°ü¼ºÀÌ ³ôÀº
- Data¸¦ ÀÌ¿ë
- ´ëÃ¥ ¼ö¸³½Ã ¹®Á¦ÀÇ ºÐ¸®
- /¼±º°¿¡ À¯¸®ÇÔ
- Àü±Ø°ú Matching »çÀÌ¿¡
- ÀÛÀº Å©±âÀÇ ¼¾¼­ ÀåÂø
- è¹ö¿¡ Ãß°¡ °¡°øÀÌ ÇÊ¿ä
- ¾ø°í è¹ö ¿ÜºÎ¿¡ ÀåÂø
- ¼Ò¸ð¼º ÆÄÆ®°¡ ¾øÀÌ ¹Ý¿µ
- ±¸ÀûÀ¸·Î »ç¿ë °¡´É

ºñħÅõ½Ä À̿ ¿¡³ÊÁö ºÐ¼® ¹æ¹ýÀº Àü±âÀûÀ¸·Î ºÎÀ¯ µÇ¾îÀÖ´Â ±âÆÇ¿¡ ÀÔ»çÇÏ´Â ÀÌ¿ÂÀÇ ¿¡³ÊÁö ºÐÆ÷¸¦ ±âÆÇ¿¡
ºÐ¼® ÀåÄ¡¸¦ »ðÀÔÇÏÁö ¾ÊÀ¸¸é¼­ ±âÆÇ ¹ÙÀ̾ Àü¾Ð°ú Àü·ù¸¦ ÃøÁ¤ÇÑ´Ù.
System Configuration


Monitoring Parameters
Parameter Description
IEDF À̿ ¿¡³ÊÁö ºÐÆ÷
Emean Æò±Õ À̿ ¿¡³ÊÁö
Estd À̿ ¿¡³ÊÁö ºÐÆ÷ÀÇ Ç¥ÁØ ÆíÂ÷
Elow Low energy peakÀÇ À§Ä¡
Ehigh High energy peakÀÇ À§Ä¡
Nlow Low energy peakÀÇ ³ôÀÌ
Nhigh High energy peakÀÇ ³ôÀÌ
Estd/Emean Á¤±ÔÈ­µÈ Ç¥ÁØÆíÂ÷
Skewness ¿¡³ÊÁö ºÐÆ÷ÀÇ ºñ´ëμº¿¡ ´ëÇÑ ÁöÇ¥


¼¾¼­ºÎ:
¹ÙÀ̾¿¡ °É¸®´Â ¶óµð¿À Á֯ļö(RF)ÀÇ Àü¾Ð°ú Àü·ù¸¦ ÃøÁ¤ÇÑ´Ù. RF ¼¾¼­´Â ¸ð´ÏÅ͸µ º¯¼öÀÇ Á¤¹Ðµµ¿Í °ü·ÃµÈ ºÎºÐÀ¸·Î °íÀü¾Ð°ú °íÀü·ù¿¡¼­ ¾ÈÁ¤ÀûÀ¸·Î µ¿ÀÛÇϰí ÀåºñÀÇ impedance Ư¼º¿¡ ¿µÇâÀ» ³¢Ä¡Áö ¾Êµµ·Ï Á¦À۵ǾîÁø´Ù.
Á¦¾îºÎ:
¼¾¼­¿¡ ÀÇÇØ °ËÃâµÈ ½ÅÈ£¸¦ ÃøÁ¤Çϰí, ÃøÁ¤µÈ ½ÅÈ£¸¦ °¡°øÇϰí, ±× µ¥ÀÌÅ͸¦ ¹ÙÅÁÀ¸·Î ÀÌ»óÀ¯¹« °ËÃâ ¹× system ¶Ç´Â »ç¿ëÀÚ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î¿ÍÀÇ interface¸¦ ¼öÇàÇÑ´Ù.

ÃøÁ¤ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î:
¼¾¼­·ÎºÎÅÍ ¾ò¾îÁø Àü¾Ð½ÅÈ£(Vm)¿Í Àü·ù½ÅÈ£(Im)¸¦ À̿¿¡³ÊÁö ºÐÆ÷ÇÔ¼ö·Î Ç¥ÇöÇØÁÖ´Â ÇÁ·Î±×·¥À¸·Î ÃøÁ¤ÇÑ IV ½ÅÈ£¸¦ À̿¿¡³ÊÁö ºÐÆ÷ÇÔ¼ö·Î º¯È¯½ÃŰ´Â ¾Ë°í¸®Áò, ÃøÁ¤ ȯ°æÀ» ¼³Á¤ÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ¸Þ´º â µîÀÌ Æ÷ÇÔµÊ »ç¿ëÀÚ È¯°æ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î µîÀ¸·Î ±¸¼ºµÈ´Ù.
À̿¿¡³ÊÁö ºÐÆ÷ÀÇ Åë°èÀû 󸮸¦ À§ÇÑ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î:
°øÁ¤°ú ¸ð´ÏÅ͸µ ÀÎÀÚÀÇ ÇàŸ¦ Áö¼ÓÀûÀ¸·Î ÀúÀåÇÏ°í ºÐ¼®ÇØÁÖ´Â ÇÁ·Î±×·¥ÀÌ´Ù. ÇʼöÀûÀ¸·Î °®Ãß¾î¾ß ÇÒ Á¶°ÇÀº ´ÙÀ½°ú °°´Ù. °øÁ¤ÀÇ ÆíÈ­¿¡ ¹Î°¨ÇÑ ÁöÇ¥ÀÏ °Í. °øÁ¤ Ư¼º º¯È­¿¡ µû¶ó ¼­·Î µ¶¸³ÀûÀÎ º¯È­ Ư¼ºÀ» º¸ÀÏ °Í. °øÁ¤ Ư¼º º¯È­¸¦ À¯ÃßÇϱ⿡ ¿ëÀÌÇÑ ÀÎÀÚÀÏ °Í.




In-situ monitoring
¼ÒÀÚÀÇ ÁýÀûÈ­/¿þÀÌÆÛÀÇ ´ë¸éÀûÈ­¿¡ µû¸¥ °øÁ¤½ÇÆÐ ºñ¿ëÁõ°¡
Lot ´ÜÀ§ÀÇ °øÁ¤/test´Â ¼Õ½Ç ºñ¿ëÀÌ ¸Å¿ì Å­

Well-defined/Intuitive parameter
±âÁ¸ÀÇ monitoringÀåºñµéÀº ÇöóÁ/°øÁ¤¿¡ ´ëÇØ °£Á¢ÀûÀÎ ¾çÀ» ÃøÁ¤/°è»ê

Non-invasive measurement
è¹ö¿¡ »ðÀԵǴ °æ¿ì Àû¿ëÀÇ ÇѰ谡 ÀÖÀ½


Non-invasive Ion Energy Analyzer

Plasma Monitoring System